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贵金属分析仪器厂家
日期:2010-09-03 14:25  点击:2
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光谱仪器的技术参数(咨询价格金先生13538218521) 分析范围:1%~99.99% 测量时间:自适应 测量精度:±0.1% X射线源:Mo靶的X射线光管 摄像头:高清晰摄像定位系统,工作可靠,效率高 集成工业计算机,无需外接电脑;带门锁电锁,使日常管理更便捷; 探测器:固定式半导体封气正比计数器 高压器:4~50Kv 分析:多通道模拟 软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算 镀层测量:镀层厚度范围<30um 温度:15~30℃ 电压:100~127V或220~240V,50/60Hz 最大功率:120W 重量:48公斤 尺寸:500*500*400mm 操作系统:Windows2000/Me/XP
联系方式
公司:深圳市西凡科技有限公司
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姓名:曾祥芬(先生)
电话:86-0755-27857822
手机:13418624495
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