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仪器特点： 1．同时分析测量多种元素（根据客户要求配置从Na到U的任意多种元素）； 2．可检测固体﹑液体﹑粉末，无需复杂的制样过程； 3．采用进口SI-PIN探测器，分析速度快； 4．精确度高，稳定性好，故障率低； 5．采用多层屏蔽保护，辐射安全性可靠； 6．基于WINDOWSXP/VISTA中文应用软件功能丰富，独特先进的分析方法，各种图表和趋势图为操作者提供直观的支持，操作简单，使用方便,分析结果可直接输出到Excel，便于进行统计分析。 主要技术指标： 1多功能置样装置 X荧光分析仪的置样装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。 A．样品种类：固体﹑液体﹑粉末。 B．样品室的环境：可选择空气﹑真空。由软件自动控制，无需人工操作。 2X射线管激发系统 系统采用50KV的低功率正高压X射线发生器作为激发源。由高电压发生器，X射线发生器及控制显示系统等部分构成。 A.高压发生器：电压与电流采用软件自动控制及显示。 电压范围：0V至50kV连续可调。 电流范围：0mA至1mA连续可调。 B.X射线发生器：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命的X光管，并根据实际应用需要选择靶材。3进口的高分辨率SI-PIN探测器系统 SI-PIN电制冷高分辨率高计数率探测器。 4系统软件 A．操作：WINDOWSXP/VISTA操作系统软件，功能强大，使用方便。 B．功能：能谱显示，分析元素设置，能量刻度，X光高压、电流自动控制，自动真空控制。 C．分析方法：线性拟合，二次曲线，强度校正，含量校正，基本参数方法。 D．仪器的漂移自动修正：保证仪器的分析结果长期稳