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产品描述 光谱分析仪ASF01-FTB-5240B详细说明 产品说明光谱分析仪主要用于对密集型波分复用(DWDM)系统中的光器件如合波器、分波器、光放等器件的光参数进行测量和分析，能够显示各波图形并具有自动校准功能。主要测量和分析的光参数有：波长参数：中心波长、平均波长、－20dB带宽、截止带宽等参数。功率参数：峰值功率、总功率、信噪比，边模拟制比、增益平坦度等参数。1.波长指标(1)波长范围1250～1650nm(2)绝对精度无外部校准光源条件下≤±0.03nm用户校准模式下≤±0.015nm(3)波长线性度（在C和L段全范围）≤±0.01nm(4)分辨率带宽(FWHM带宽)最小分辨率带宽小于0.033nm(5)调整重复性±0.003nm2.光功率指标(1)线性度≤±0.1dB(2)平坦度(1530～1570nm)≤±0.1dB(3)偏振相关性(1550nm)≤±0.15dB(4)灵敏度(1550nm)≤-75dBm(5)光抑制比（ORR）0.1nm≥35dB0.2nm≥48dB0.4nm≥50dB(6)最大输入功率：+20dBm3.信噪比测试精度(连续波)≤±0.6dB测试范围(0.1nm带宽)≥35dB4．光谱仪主要测试功能：光谱仪应具有如下测试模式：1）WDM测试模式：能够显示如下指标：中心频率、20dB带宽，通道信号功率、总功率、信号功率平坦度、信噪比2）EDFA测试模式：能够显示如下指标：噪声指数、信号增益、增益平坦度、输入信号平坦度、输出信号平坦度3）激光器测试模式：能够显示诸如DFB激光器相关指标：包括峰值功率、中心波长、边模抑制比，xxdB带宽等；以及FP激光器相关指标4）谱损测试模式：能够测试诸如DWDM合波器、分波器等无源器件指标：滤波器峰值波长、插损、插损平坦度、滤波器3dB和20dB带宽5）漂移测试模式：用于测试WDM系统长时间中心频率、通道功率、信噪比的变化6）曲线比较模式：该模式可以将不同时间测试的曲线结果进行比较，可用于测试WDM系统维护中系统老化的分析。内容包括中心频率变化、通道功率变化。应答：满足7)超级波分测试功能：仪表应能够具有对预啁啾DWDM信号测试功能。5．扫描时间：扫描周期(全范围数据分析)≤1.5s