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供应博尔科曼微结构的三维测量仪
日期:2010-09-02 09:51  点击:5
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UikroTOP微结构的三维测量 对物体,部件,模型和工具表面结构的高精度三维分析 基于拓扑几何学的三维数字化系统uikroTOP可以非常忠于细节的完成对微结构的测量,数字化和分析。 UikroTOP最重要的特征是: uikroTOP是基于我们的被验证的optoTOP-HE技术。 uikroTOP系统的传感器装配了高分辨率的数码相机(1.384x1.036Pixel)。 三个变焦镜头可以实现测量范围的改变,从11x8mm到33x24mm. 在一秒钟之内完成非接触式的无干扰的测量。 整个系统通过电脑控制,可以灵活使用,快速运输。 确定表面的粗糙程度
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