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1概述 我公司根据国内外冶金、地质等相关企业对矿产品品位快速分析的市场需求，合作开发了一系列监测生产过程的分析检测仪器。其中AD3000便携式X荧光分析仪是集当今最新电子技术、计算机技术和核分析方法于一体，具有微机化程度高、人机界面友好、分析精度高、分析速度快、性能价格比高等特点，成为相关企业进行生产控制和科学研究的首选设备。适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、冶炼厂、购矿企业、质检站进行现场快速测量分析和地质勘探、作岩矿露头现场测量、钻孔岩蕊直接测量、坑道井壁测量和室内粉末测量. 2测量原理 X光管产生的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子，当外层电子补充内层电子时，会放出该原子所固有能量的X射线，称之为特征X射线（X荧光）。各种元素的原子受激发后，在退激过程中放出的特征X射线能量各不相同，例如铁的特征X射线（FeKα）能量为6.4KeV,铜的特征X射线(CuKα)能量为8.0KeV等等,依次可进行定性分析。在一定条件下，特征X射线的强度与元素含量（品位）成正比，依此可进行定量分析。对于半无限大空间饱和厚度，并且表面均匀的样品，当二次荧光可以忽略时，目标元素的特征X射线强度（IK）可以用下式表示：IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)式中：K为与探测器的激发效率有关的常数；I0为入射射线强度；Ck为目标元素的含量；μ0为入射射线在样品中的质量吸收系数；μK为特征X射线在样品中的质量吸收系数；φ为入射射线与样品表面间的夹角；ψ为特征射线与样品表面间的夹角。这是X射线荧光分析最基本理论公式。在实际样品分析时，由于样品中物质成分差异，还应考虑基体效应校正，才能得到正确的结。 3主要特点可直接对现场块矿、矿壁进行测量，也可以对测量粉末直接或制样测量。一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高.全中文应用软件，操作简单，测量时间短.采用1024道多道分析器；分析元素：S、Ca、Ti、V、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Sn、W、Mo、Sr、Zr等.采用Si(Li)半导体探测器，能量分辨率高：优于150eV(55Fe).分析范围：0.01%-99.9%测量范围：2-30kev.重复性： 0.1%.稳定性： 0.01%.测量时间： 200S.整机功耗：4W.仪器重量：3.5Kg； 4仪器成套组成本产品主要包括以下部分：①仪器主机.②包装箱.③附件.