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红外显微镜成像系统参数_optotherm锁相热成像-立特为智能电话：l52l9504346 （温先生）
关键词： Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system
1. 它的应用非常广泛，去封装的芯片分析，未去封装的芯片分析，电容，FPC,甚至小尺寸的电路板分析（PCB、PCBA）,这也就让你可以在对样品的不同阶段都可以使用thermal技术进行分析，如下图示例，样品电路板漏电定位到某QFN封装器件漏电，将该器件拆下后发现漏电改善，对该器件焊引线出来，未开封定位为某引脚，开封后扎针上电再做分析，进一步确认为晶圆某引线位置漏电导致，如有需要可接着做SEM,FIB等分析。
未开封器件分析
开封器件分析
2. 它能侦测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏电，低阻抗短路，ES击伤，闩锁效应点，金属层底部短路等等，而电容的漏电和短路点定位，FPC,PCB,PCBA的漏电，微短路等也能够精确定位
lock-in锁相分析
开封芯片漏电分析
GAN-SIC器件
3，它是无损分析：作为日常的失效分析，往往样品量稀少，这就要求失效分析技术最好是无损的，而对于某些例如陶瓷电容和FPC的缺陷，虽然电测能测出存在缺陷，但是对具体缺陷位置，市场上的无损分析如XRAY或超声波，却很难进行定位，只能通过对样品进行破坏性切片分析，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 技术，你需要的只是给样品上电，就可以对上述两种缺陷进行定位
FPC缺陷分析
电容缺陷分析
4,锁相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测uA级漏电流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点侦测法（0.1℃分辨率，mA级漏电流热点）
5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，提供了一种快速探测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示出缺陷的位置，在半导体领域
在集成电路操作期间，内部结自加热导致接合处的热量集中。器件中的峰值温度处于接合处本身，并且热从接合部向外传导到封装中。因此，器件操作期间的精确结温测量是热表征的组成部分。
芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热分析工具（如 图像序列分析）可用于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接合的完整性。
OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统作为一台专业为缺陷定位的系统，专为电子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN技术，使用LWIR镜头，仍能将将温度分辨率提升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率最高达到5um,尤其其软件系统经过多年的优化，具有非常易用和实用，以下是OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统分析过程的说明视频
LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作为Optotherm公司中国代表（独家代理），在深圳设立optotherm红外热分析应用实验室，负责该设备的演示和销售，如有相关应用，可提供免费评估测试服务。
深圳市立特为智能有限公司LEADERWE立为包括立为智能国际有限公司和深圳市立特为智能有限公司，是一家专业提供电子、材料等领域分析及检测设备的综合服务供应商！
LEADERWE 立为拥有一批有着丰富经验的销售人员以及专业的服务人员，不仅为您提供高端实用的设备，更能为您完整的方案及相应的应用技术支持。
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用红外热像仪检测散热效率
红外热像仪是一种采用非接触式测温的设备，通过对物体表面的热分布成像和分析，可迅速准确地发现物体的热缺陷。在电子和半导体行业的温度分布、功耗设计和研究、散热效果分析、PCB布局优化、维修检测等方面，灵活使用红外热像仪，研发人员能显著提高散热设计各个环节的工作效率。
红外热像仪在使用时有如下特点：
1）非接触，不用担心触电风险；
2）“看见”热，比经验和直觉耗时更少，定位更准确
3）“看”小物体的热成为可能
一、快速评估热负载
红外热像仪可对产品的温度分布清晰直观成像，帮助研发人员精准评估热分布，定位热负荷过大区域，让后续的散热设计更有针对性和目的性。
二、散热方案评估验證
设计阶段会有很多种散热方案，红外热像仪可帮助研发人员快速、直观地评估不同散热方案效果，从而确定技术方案。
三、散热材料选择
确定散热方案后，研发人员需对供应商提供的不同规格的散热材料进行测试筛选，达到散热指标和成本的均衡。比如在等电子产品中，通常会使用铝箔贴片、石墨散热薄膜等柔性导热材料用于散热，这些材料不同的品牌、工艺和规格，散热效果也会不一样，利用红外热像仪，研发人员可快速评估散热效果，综合考虑性能指标和成本确定合适的材料。由iPhone和小米引领的石墨散热膜有效的解决了高性能的散热问题，并成为新的研究和投资热点。
红外显微镜成像系统参数_optotherm锁相热成像-立特为智能发现这个问题。诸如此类的质量监测使用传统的接触式温度传感器更不易检测出来。因此，红外热像仪有助于在众多产品报废前更正产品发生的变化，提升产品质量。红外热像仪悘用，红外显微镜成像系统参数_optotherm锁相热成像-立特为智能探测器为间接数字化x线成像，其基本结构为表面是一层闪烁体材料（碘化绝或硫氧化），再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路，最底层为电荷读出电路。位于探测器表面，红外显微镜成像系统参数_optotherm锁相热成像-立特为智能仪采用先进的红外成像技术，能够侦测到人体的红外辐射或热量，基于检测的温差成像并测温，采用先进的算法，使得测量的人体温度准确度为±0.4℃；同时具备画面清晰的特点，红外显微镜成像系统参数_optotherm锁相热成像-立特为智能现场的其他设备的电磁辐射影响吗？红外热像仪是全被动接收设备，自身没有主动辐射信号，对于现场的其他设备或产品没有干扰。外部电磁辐射影响：目前只发现电解铝的大电流整。
