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DP-1000是一款可以在固体状态下直接分析粒子的粒径，个数以及粒子的化学成分构成的最新分析装置原理：采用HE-MIP的发射光谱分析技术以前无法分析的粒子表面的覆层状态，现在可以分析，并可以定量和图形化可以分析SEM-EDX和ICP所无法分析的样品间的不同