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本仪器用于测定物质在程序温度控制下产生物理或化学性质变化时所发生的热效应与相应温度。广泛应用于物质的熔融、凝固、分介、化合、还原、氧化、相变、裂介、吸附、解析、纯度、热硬化、结晶、相图制作,耐热、组分、催化剂等方面的研究。 温度范围:室温~1450℃升温速率:1~20℃/minDTA量程: 10 25 50 100 250 500 1000uV温度显示分辨率:0.1℃温控方式:微机程序控制自整定PID基线噪声:不大于0.3uV操作系统:Windows输出方式:586微机、激光打印机外型尺寸:2000mm 460mm 500mm CRY-31PCRY-2PCRY-2CRY-1PCRY-1CDR-34PCDR-4PCDR-1ZRY-2PZRY-1PRJY-1PWRT-3PWRT-2P
供应高温差热分析仪 CRY-32P
日期:2010-09-30 00:28 点击:12
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