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X-4000采用世界上最新的高分辨率、高计数器、薄窗的高性能硅半导体探测器和新型高速电子电路，使用其分析速度、分析精度较同类仪器有很大提高。还配备了可选的真空或氦光路，特别对轻元素的分析有了本质的改善。 #固体、粉末、液体及薄膜等多种样品皆可测试，且样品不破坏 #自动谱线识别，让您方便地了解样品的组成 #丰富的定量分析软件 #测量范围宽，从钠（11）至铀（92）都可测量 #测量速度快，通常为几十秒到几分钟 #多元素同时定性定量 #基于WINDOWSNT/2000/XP的工作软件，使您能简单、方便地完成各项复杂的分析任务 #配置真空或充氦光路，使轻元素的分析得到本质性的改善