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BJ2984A 半导体分离器件测试仪
日期:2010-09-30 05:09  点击:4
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BJ2984A半导体分离器件测试仪 BJ2984A半导体分离器件测试仪产品特点: BJ2984A半导体分离器件测试仪可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。对以环境温度Ta为参考点不带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻;对以壳温Tc为参考点带热器使用的大功率晶体二极管,当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后,亦可确定其稳态热阻。 BJ2984A半导体分离器件测试仪技术指标: 测试功率:0~10W(1.999V/5A)(1)IF:0~5A(分8档)(2)VF:数字表:0~1.999V(3)M数字表:0~ 4.00mV/℃(4)△VF数字表:0~999mV(5)脉宽 :1mS~1000S(分七档)脉宽扩展: 1、 2、 5
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