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CIT－3000SMP便携式X荧光分析仪产品配置：采用进口的美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器系列采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术采用进口的X光管采用进口的专用的X光管高压电源采用精密的系统控制电路和数字处理电路采用专有的分析算法软件模块V2.0A配备专业的RoHS测试模式配备USB2.0蓝牙适配器配备专用的制样机配备专用的测试薄膜、测试样杯配备专用的测试标样一套?技术指标：?分析元素范围：S-U；?元素含量分析范围：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）；?采用美国航天技术Si(PIN)半导体探测器计数，能量分辨率极高，配合专利的数字脉冲处理技术， 分辨率可优于139eV； 测量范围：2－30KeV；?测量下限：Cd：15ppm；Pb、Hg：10ppm；Br：10ppm；Cr：30ppm；(以塑胶标样为例）；?精确的RoHS测试模式；?测量物质状态：固体、粉末、液体均可检测，制样简单；?校正方式：采用欧盟RoHS塑胶标样校准数据；?重复性： 0.1%；?稳定性： 0.01%；?高压：5kV-40kV（激发源为进口40KV-钨靶微型X射线管）；?管流：5 A-200 A；?整机能量分辨率：150 5eV；?检测时间：120S～240S；?整机功耗：4W；?仪器重量：3Kg；?一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；全中文应用软件，操作简单，测量时间短；同时配备PC机，分析仪通过无线蓝牙技术可单独和PC进行通信测试，方便携带和使用；?适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和化合物痕量检测及钢铁、铝业、水泥、有色金属、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测。