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AF45可以配合662和960紫外线分析仪测量过程流体在电磁波谱的206nm、214nm或226nm特定点上的光谱吸收率。AF45可测量吸收比高达50个光学密度单位（AU/OD），实际的满量程刻度是由传感器的通道长度和所用的分析仪决定的。 特点和优点 可选择专利的EasyCalTM系统快速、简单地进行在线校准 选择专利的窗口清刷系统消除在测量窗上的过程堆积物 石抛光的石英窗可重复工作于苛刻的工业场合 FAD和USP可接受的密封材质可用于制药行业 低压锌（206nm）或镉（214/226nm）蒸气作为紫外光源保证长寿命和稳定的工作 独特精确的光学通道调节器与EasyCalTM配合，可根据要求将短通道长调整到极高精确度 适用于多种过程连接和管线尺寸 流通腔体设计满足极端卫生要求、CIP和SIP制程，内面抛光到0.4μm或更好。 气体排除端口可防止冷凝物堆积在探测窗 所有传感器已在工厂做过测试，可提供完整的证明包