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分析范围：0.01%～99.99%测量时间：自适应元素分析：从Al～U的所有元素测量精度： 0.001%～0.1%X射线源：Mo靶的X射线光管风冷（无辐射）摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高双屏显示设计，造型时尚专业。集成工业计算机，无需外接电脑；带门锁电锁，自动开盖装置，使日常管理更便捷；超高的分辨率可以轻松解决贵金属行业无损检测的任何复杂要求，为贵金属行业顶级光谱仪。探测器：Si-PIN探测器；半导体制冷高压器：4～80Kv分析：多通道模拟软件：XRF6.0菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算镀层测量：镀层厚度范围 30um温度：15～30℃电压：100～127V或220～240V,50/60Hz最大功率：144W重量：57公斤尺寸：500*500*450mm操作系统：Windows2000/Me/XP 分析范围：0.01%～99.99%测量时间：自适应元素分析：从Al～U的所有元素测量精度： 0.001%～0.1%X射线源：Mo靶的X射线光管风冷（无辐射）摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高双屏显示设计，造型时尚专业。集成工业计算机，无需外接电脑；带门锁电锁，自动开盖装置，使日常管理更便捷；超高的分辨率可以轻松解决贵金属行业无损检测的任何复杂要求，为贵金属行业顶级光谱仪。探测器：Si-PIN探测器；半导体制冷高压器：4～80Kv分析：多通道模拟软件：XRF6.0菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算镀层测量：镀层厚度范围 30um温度：15～30℃电压：100～127V或220～240V,50/60Hz最大功率：144W重量：57公斤尺寸：500*500*450mm操作系统：Windows2000/Me/XP