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描述：光学结构反射:d/8;SCI(镜面光包含)/SCE(镜面光不包含)可切换;d/8光学结构符合ISO和DIN标准;d/0之光学结构也符合CIE和ASTM标准穿透:d/0.侦测器硅光电二极管（40对组件）测量波长范围360到740nm每间隔10nm精确度反射率从0到200%Resolution:0.01%光源脉冲氙弧灯（ 4）测量时间大约1.5秒.测量间隔时间4秒，当测量SCI/SCE时UV光调整/过滤瞬时数字化UV调整和400nm 420nm截断穿透测量之样品薄片,色板,或液体(装在容器中)最大厚度不超过50mm再现性光谱反射率:标准偏差≦0.1%色差值:标准偏差 E*ab≦0.02(测量条件:执行校正后测量校正白板,测30次每次间隔10秒)机台交换性(LAV)平均 E*ab0.15基于12BCRASeriesⅡ色板测量值与标准机台比较.温度影响光谱反射率:≦ 0.10%/℃色差值: E*ab≦0.05/℃通讯接口RS-232C电源AC120V/230V50/60Hz操作温度/湿度范围13to33℃;低于80%相对湿度(at33℃无冷凝)储存温度/湿度范围0to40℃;低于80%相对湿度(at33℃无冷凝)体积(W H D)244 208 378mm（9-5/8 8-3/16 14-7/8inch.）重量12kg(26-7/16lb.)标准配置校正白板CM-A103;目标罩( 4mm)CM-A107;目标罩( 8mm)CM-A106；目标罩( 25.4mm)CM-A105;零点校正盒CM-A104;附件盒CM-A109;变压器AC-A12;RS-232C通讯线CM-A52防尘罩；UnitDriver软盘