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650nm半导体激光+CCD成像/测量系统专用滤光片：消除环境光干扰，提高激光标识成像对比度，提高测量精度。650nmsemiconductorLaser+CCDimaging/measuresystemspecialfilterEliminateambientlightinterference,enhancecontrastimaginglasermarking,enhancemeasurementaccuracy
供应金吉650nm半导体激光＋CCD成像滤光片
日期:2010-10-14 12:00 点击:8
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传真:86-010-83547788-1800
地址:中国 北京 北京市 北京市广安门内大街6号枫桦国际A-3-1001
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