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温度冲击试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。 产品名称:LP/2XCJ-225高低温冲击试验箱 外型尺寸171*102*184.5 样品区尺寸40*40*45 一、温度冲击试验箱技术指标 1、温度范围：-40℃～环境温度（≤5min）～150℃ 2、高温蓄热箱：50℃～200℃ 3、低温蓄冷箱：-40～10℃ 4、温度波动度：±1℃ 5、温度误差：±2℃ 6、预冷下限温度：≤-45℃ 7、工作室冲击温度：－40℃～150℃ 8、温度恢复时间：≤5min 9、全自动转换装置.清洁无污染 10、应用