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X-4熔点仪
日期:2010-10-14 14:50  点击:7
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技术参数特点:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定,显微镜观察。既可用毛细管示测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。熔点测量范围:室温至320℃测量重复性: 200℃: 1℃,>200℃: 2℃光学放大倍数:目镜10X,物镜4X 注
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