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应用背景： FLDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性（LI和LIM）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场/近场特性（FF）和热特性（T）。打印测试报告，保存数据。测试光功率范围0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从400-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括：TO系列、COS、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。 主要特点： *采用单片机控制，按功能模快化设计,USB接口，性能稳定可靠；*LD驱动电源连续/脉冲工作可选，具有过流保护、低噪声、无浪涌和过脉冲；*自动完成测试、数据采集、数据处理和显示及打印。 测试参数如下：IO工作电流Ith 阈值电流PO输出光功率ES斜率效率VO工作电压EP功率效率Rd微分电阻 p激光峰值波长IM背光电流 波长宽度 ∥远场水平发散角 远场水平发散角Rth热阻 型号说明： 型号功率范围[1]功率精度波长范围[2]波长精度[3]发散角测量范围发散角精度最大电流[4]FLDT-100m1～100mW5.0%600-1650nm 0.4nm-60 ～＋60 0.4 400mAFLDT-10W0.1～10W5.0%600-1650nm 0.4nm-60 ～＋60 0.4 12AFLDT-100W1～100W5.0%600-1580nm 0.4nm-60 ～＋60 0.4 60AFLDT-500W1～500W5.0%600-1580nm 0.4nm-60 ～＋60 0.4 150A注：[1]更大功率需要定制。[2]更大范围需要定制。[3]更高精度需要定制。[4]CW或脉冲