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表面粗糙度测量仪SV-3100系列产品可进行高精度、高水平分析和多功能粗糙度测量。特点?三丰表面粗糙度测量仪SV-3100系列产品可进行高精度、高水平分析，多功能3D表面粗糙度分析，微细轮廓测量，以及原有的表面粗糙度测量。?自动调水平工作台、3轴调整台等外部设备的应用，有效增强了该产品的操作性能，同时也真正实现了自动测量。?安装了专业资料分析软件SURFPAK-SV使用这一软件，可对从车间和实验室中得到的资料进行统一格式的管理。?采用陶瓷制作的X轴驱动部导轨，因为陶瓷具有极好的防磨损性能。无需润滑油也能正常工作。?为了保证高精度测量，在X轴和Y轴(选件)上都内置了高清晰度的玻璃尺(X轴分辨率：0.05μm,Y轴分辨率：1μm)因为要保证SV-3100系列产品具有高度的可靠性，特别是对于水平粗糙度参数(S,Sm),X轴的分辨率就必须达到相当的水平。?配有高精度测针。?配有多种功能，如“直线度补偿功能”，可确保X轴的线性精度；“圆度补偿功能”，可保证测针的垂直移动；以及“针尖半径补偿功能”等。?测针和测针导头都可轻松替换。可选测针和滑轨可适应各种粗糙度测量的需要，如小孔测量、深孔测量等。?在各种型号中，还提供了易于操作的控制箱。控制箱与主机分离，可遥控执行定位、开始／停止测量、返回以及远程进行其他操作。驱动部的上／下位置和X轴的移动都可手动进行微调。评估能力:SURFPAK-SV评估轮廓　P(主轮廓),R(表面粗糙度轮廓),WC,WCA,WE,WEA,　　　DIN4776轮廓、包络残余线、粗糙度motif、波形motif评估参数　Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp,Rpmax,Rpi,Rv,Rvmax,Rvi,　Rt,Rti,R3z,R3zi,R3y,S,Pc(Ppi),Sm,HSC,mr,dc,plateauratio,　mrd,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,Da,Dq,la,lq,Sk,Ku,Lo,Lr,A1,　A2　粗糙度motif参数:Rx,R,AR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM　波形motif参数:Wte,Wx,W,AWSW,SAW,NW分析图表　ADC,BAC1,BAC2、功率谱图、自相关图、Walsh功率谱图、Walsh自相关图、倾斜分布图、局部峰值分布图、参数分布图滤波类型2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),　2CR-50%(相位校正),高斯-50%截止波长*　lc:0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm　fl:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm　fh:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm取样长度(L)*　0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm取样长度　倾斜补偿、R平面(曲面)补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、　双曲线补偿、二次曲线自动补偿、多项式补偿、　多项式自动补偿*可在0.025mm至最大移动长度间指定任意长度。检测器　范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(使用测头选件时，最大可达2400μm)　检测方法:无轨／有轨测量　测力:4mN或0.75mN(低测力型)　测针针尖:金刚石、90o/5μmR(60o/2μmR:低测力型)　导头曲率半径:40mm　检测方法:差动电感式基座尺寸(WxH):600x450mm或1000x450mm基座材料:花岗岩尺寸(WxDxH):756x482x966mm(S4型)756x482x1166mm(H4型)1156x482x1176mm(W4型)766x482x966mm(S8型)766x482x1166mm(H8型)1166x482x1176mm(W8型)重量140kg(S4,S8型)150kg(H4,H8型)220kg(W4,W8型)*L为驱动长度(mm)