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霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K～380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量，进行半导体电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。