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Werth测量机的测量范围从几十个毫米到数米，精度从几个微米到百个纳米，测量分辨率最高到达1个纳米，可以集成进去使用的测量传感器：接触式单点、接触式扫描、低接触力测头、激 光、激光线扫描、快速激光、WERTH光纤侧头，WERTH光学测头、普通光学测头、可见光干涉测头、接触式和激光复合的粗糙度测头，WERTHCT(X光高精度)测头等十多种。应用优点: ◆ 图象处理测量，接触式测量和激光测量集成在一个三座标测量机中◆ 以可视的方式监控激光测量◆ 不损失测量范围，激光传感器集成到图象处理传感器中◆ 光斑很小，可以测量很小的细节(在WLP 10x的情况下为3 m)◆ 垂直的激光光路，可以测量很小的孔◆ 自动的光强调节和智能的软件，容易地测量不同的表面技术数据：◆ 最大的测量速度 1米/秒 (Inspector FQ )◆ 采样频率：5000 点/秒◆ 分辨率：0.1 m◆ 接触精度 MPE* 使用Werth Zoom WLP◆ 单点测量： P1Z：2.5 m ◆ 扫描： THP1Z：3.5 m 使用2.5x 光学镜头的WLP◆ 单点测量： P1Z：2.5 m ◆ 扫描： THP1Z：3.5 m 使用5x 光学镜头的WLP◆ 单点测量： P1Z：1.0 m ◆ 扫描： THP1Z：1.5 m 使用10x 光学镜头的WLP◆ 单点测量： P1Z：0.75 m ◆ 扫描： THP1Z：1.0 m ◆ 测量原理: Foucault edge * 使用Werth标准体，依据ISO 10360和2617。