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LH系列干燥老化试验箱该系列干燥老化试验箱适用于电工电子产品、元器件、零部件等在高温环境下的适应性试验。技术参数:型号规格工作室尺寸（D×W×H）（mm）技术参数LH-50350×450×450温度范围：RT+10℃～450℃温度波动度：±0.5℃温度偏差：±2℃LH-140450×550×550LH-225500×600×750LH-640800×800×1000LH-1150800×1200×1200