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2010精密零件测量系统 产品说明: 精密件零显微测量系统 精密件零显微测量系统SK2010是一套集合了数位科技成果与计算机屏幕测量技术的数码投影测量系统，它应用了独有的双向同步倍率校正技术（专利）,采用独特同轴光、底光、侧光设计和具有投影与正像两种成像方式,可以测量在75*75mm范围内的零件局部（15*15mm）.测量精度为±2um,调节倍率在20x－80x之间,解析度0.001mm.能够有效的解决了器件的误差和屏幕的局限和满足各种测量倍率的要求.产品已经达到业内领先科技的水平;是针对精密零件制造业日益精湛的加工工艺所带来的精确计量需求开发而成. 性能： ◆ 独有的双向倍率同步专利技术 ◆ 自动扫描收集数据 ◆ 20x－80x调节倍率可满足各种测量对倍率要求 ◆ 具有投影和正像两种成像方式 ◆ 具有消场曲和消畸变的成像特质 ◆ 独特同轴光、底光、侧光设计 ◆ 采用sony原厂CCD摄像头 ◆ ＳＫＤ－ＣＬ２软件系统可进行各种图像测量和处理 ◆ 支持多种格式,可进行图像存储、打印、编辑、发送、格式化等. 技术参数： 型号 2010 显示方式 电脑监视器液晶屏电视机 工作距离 90mm－140mm 测量范围 0.01mm－15mm 工作倍率 20x－80x 解析度 0.001mm 照明光源 同轴光、底光、侧光 图像器件 Sony原厂CCD摄像头 图像输出 Av信号或USB接口