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上海华岩仪器设备有限公司供应TD-C镀层电阻测量仪 一、 产品简介 本产品系我公司根据方块电阻定义，测量方法，自行研制开发的高科技产品。主要用于测量金属化薄膜（片）的方块电阻（也称为薄膜电阻），以测定薄膜镀层的厚度，特别适用于镀膜厂、电容器厂、半导体材料厂等单位使用。上海华岩仪器设备有限公司供应镀层电阻测量仪。 本产品选用大规模集成电路，采用开关电源结构，备有专用弹性四探针探头，测量精度高，能快速测试，并且有重量轻、范围宽、携带方便、使用简单、可靠等优点。二、 主要技术指标：1、 测量范围：0~19.99 /□2、 分辨率：10m /□3、 测量误差: 1%+2字4、 显示方式：3 1/2 LCD或3 1/2 LED5、 零点漂移：1字/24小时6、 供电电源：AC87V~240V7、 使用条件：环境温度 40℃，相对湿度 80%8、 工作条件：24小时连续工作9、 外形尺寸：210（mm） 180（mm） 85（mm）10、净重：1.5kg三、 使用方法：1、 使用前准备： 打开铝合金包装箱，应及时检查仪器有无在运输中造成损伤，若有任何问题，请及时与我公司或经销商联络。上海华岩仪器设备有限公司供应镀层电阻测量仪。2、 使用方法：（1）将仪器所配电源线与仪器接好，并与当地电网连接；将所附的四探针测量棒的插头与仪器插座相连接；打开电源开关，数码管应显示 0.00 ，同时测量指示灯亮，表示仪器工作正常，处于待测状态。（2）测试工作台要求平整，不得有任何凹凸孔，或杂物，避免影响测量精度。然后将被测面朝上，将探头与被测物接触，探头与膜平面成30度~90度，稍加压力。（3）此时测量指示灯灭，即可读数，读得数值即为被测品的薄膜电阻（方块电阻），单位为 /□。