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用于各种封装的的二、三极管、桥堆、MOSFET和可控硅等分立器件进行高温反偏高温栅偏试验（HTRB/HTGB）、高温漏电流测试（HTIR）和老化筛选 杭州汉瑞电子有限公司成立于1999年，专业从事半导体元器件老化测试座、老化测试板、老化测试设备的开发和生产。公司投入大量资金和人力先后开发了100多个品种的高温老化测试座，一改过去老化测试座清一色进口的局面，不仅为广大客户降低了成本，而且大大缩短了采购周期。2002年老化测试板系列质量全面升级，使用寿命延长50%以上，高温老化板整体品质遥遥领先国内同行，处于国际领先地位。2003年，公司通过ISO9001-2000认证，同年产品开始进入国际市场。在全球半导体制造商中，公司已经拥有不少的客户，并与他们一直友好合作。公司拥有经验丰富的专业人才和齐全的生产设备，随时可为您提供高效优质的服务。