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4200-SCS型半导体特性分析系统-集成前沿的脉冲能力和精密DC测量，用于65nm节点及更小尺寸主要特点及优点 直观的、点击式Windows操作环境独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试支持Keithley590型与Agilent4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent81110脉冲发生器等多种外围设备硬件由Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充包括驱动软件，支持CascadeMicrotechSummit12K系列、KarlSussPA-200和PA-300，Micromanipulator的8860自动和手动探针台支持先进的半导体模型参数提取，包括IC-CAP和CadenceBSIMProPlus/Virtuoso 容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。模块名模块描述主要指标基本模块4200-SMU4200源表模块,用于I-V测试210V,100mA,2W4210-SUM4210源表模块,用于I-V测试210V,1A,20W，精度0.1pA4200-PASMU前置放大器，加在SMU前端提供0.1fA的测试精度4200-CVUC-V测量单元1pf-1uf,1k-10Mhz4205-PG2双通道脉冲发生器1hz-50mhz，+/-40V，min-width10ns4200-SCP21.25G双通道示波器卡带宽750Mhz，10V4200-SCP2HR200M高精度双通道示波器卡带宽250Mhz4200-PIV-A单脉冲I-V测试套装PG2+SCP2+RTB24200-PIV-Q双脉冲I-V测试套装4200-FlASHN-Flash测试套装其他选配4200-RBT外置偏置电压合成器707A半导体开关矩阵主机708A单槽开关矩阵主机4200-SCP2-ACC70Mhz探针70718x12通用开关矩阵卡70728x12半导体开关矩阵卡7072-HV8x12高电压半导体开关矩阵卡7174A8x12高速度，低电流开关矩阵卡