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【官方网址】http://www.henergysolar.com/product/hs-wdi.htm硅片缺陷观测仪(HS-WDI)，于对硅片的缺陷进行观察，效果非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；硅片缺陷观测仪-产品特点■适用于对硅片的缺陷观察效果，非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等；■使硅片缺陷观察工作简单化，准确化，同时极大程度降低此项工作强度；■实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；■使用1/2 CMOS感光芯片，具有体积小，技术先进，像素较高，成像清晰、线条细腻、色彩丰富；■传输接口为USB2.0高速接口，软件模块化设计；■有效分辨率为200万像素；■所配软件能兼容windows2000和windowsXP操作系统。硅片缺陷观测仪-推荐工作条件■温度：23 2℃■湿度：60%~70%■无强磁场、不与高频设备邻近典型用户浙江昱辉、江西塞维ＬＤＫ、常州天合等电子邮件咨询:Sales@HenergySolar.com