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简介：测定对象：ITO玻璃、薄膜，各种金属薄膜、各种导电性薄膜、薄片详细描述：阻抗率自动测定系统MCP-S620，MCP-S521，MCP-S600阻抗率自动测定系统特色 ：测定演算、数据处理，3次元图形输出完全自动化，可应用至基板尺寸650 650mm之长方形、圆形样品， 边缘之影响 被补正，依[MCC方法]测定例型号 ：﹢低阻抗率型式：MCP-S620(650 650mm),MCP-S521(450 450mm) ﹢高阻抗率型式：MCP-S600(400 400mm)
供应日本三菱高阻抗率計系列自動測試MCP-S600
日期:2010-10-01 01:27 点击:4
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