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供应便携式四探针测试仪(
日期:2010-09-30 18:45  点击:7
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便携式四探针测试仪(电阻率:0.001~199.99 .cm,方块电阻:0.01~1999.99 /□,可扩展,主机,FT201探头)本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 RTS2测量范围 电阻率:0.01~1999.9 .cm; 方块电阻:0.1~19999 /□; RTS2A测量范围 电阻率:0.001~199.99 .cm; 方块电阻:0.01~1999.9 /□;RTS2恒流源 电流量程分为100 A、1mA两档,各档电流连续可调RTS2A恒流源 电流量程分为1mA、10mA两档,各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式:000.00~199.99mV;     分辨力:10 V; 输入阻抗: 1000M ; 精度: 0.1%; 显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示;四探针探头基本指标 间距:1 0.01mm; 针间绝缘电阻: 1000M ; 机械游移率: 0.3%; 探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16牛顿(总力);四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差(按JJG508-87进行) 1 、10 、100 小于等于0.3% 1字整机测量最大相对误差(用硅标样片:0.01-180 .cm测试) 5%整机测量标准不确定度 5%外型尺寸 125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)标准使用环境 温度:23 2℃; 相对湿度: 65%; 无高频干扰; 无强光直射;
联系方式
公司:北京亚兴泰机电设备有限公司
发信:点此发送
姓名:纪斌(先生)
电话:86-010-82831623
手机:15810992676
传真:86-010-82831623
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