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单晶少子寿命测试仪寿命测试仪 测试仪 型号：GSZ-DSY-II *.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。 本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法 的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放 大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品 台共五部份组成；*.测试单晶电阻率范围： 10 .cm*可测单晶少子寿命范围：20 S-5000 S；