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本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关国际标准设计的。仪器的电流输出为10 A-100mA，电阻率测试范围为10-2-105 cm，直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强，更方便于用户，而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量,也可以测量固体半导体材料，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制.电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统,高度测量的测试台和仪器组成.