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概述 介质损耗测试仪是一种最新绝缘测试仪,采用LCD汉字显示界面,全部操作由中文菜单给予提示,仪器配备了面板打印机并能存储500次的测量数据,即使关闭电源数据亦不会丢失。当采用反接法测量时,由光纤传递信号,隔离高压、工作安全。仪器内部采用微机进行信息与数据处理,自动选择测量量程,测量精度高,采用变频技术抗外电场干扰性能好,升压过程突然断电不会引起过电压。操作简单,使用方便。主要技术指标 1.测试式作方式:正接法测量,反接法测量。2.仪器高压输出:0.5KV-10KV(每1KV一档)3.电容测量范围:Cx=30pF-40000PF,分辨率:0.1PF误差:10KV时 2000PF,2KV时 60000PF,读数妆1.0%?1PF4.介质损耗因素测量范围:tg :0.1%-10%,分辨率:0.0001误差:读数妆1.0%?0.08%5.频率输出:45HZ、50HZ、55HZ、55/65HZ、60HZ、65HZ6.仪器为一体化结构:重量20Kg7.体积:470*370*410使用方法 1.电源电压:AC220V?22V 50HZ?1HZ2.使用环境:温度-5℃-40℃ 湿度 85%RH3.面板功能如图 3 HV 13 HV1 HV2 CTT专用AC0-30V输出 14 LV 10 D E 8 9 打印机 液晶显示器 1 11 退出确认 2 4 5 6 7 图(一) 面板示意图1.打印机2.电源插座(AC220V)、保险丝(10A)、电源开关、组合件3.高压拖线(HV)最外层屏蔽接地插座。4.5.测量或选择项目时,上翻或下翻移动光标用 按键6. 退出 功能用键。7. 确认 功能用键。8.高压指示灯:有高压输出时此灯亮。(D)9.仪器安全和回路接地柱(E)10. 低压端 电缆插座(LV)11.液晶汉字显示器12. 高压端 电缆插座(HV)13. 高压连通:插上短线插头!!!HV1 HV2高压去除:去除短线插头!!!做正接法,反接法时插上短线插头才有高压,做CVTAC0-30VAD输出时一定要去除短线插头14.CVT专用AC0-30V输出插座面板各功能键作用 :按下此键可移动光标。 确认 :选择好所需测试项目后,按下此键,仪器进入工作状态。 退出 :按下此键,仪器返回主菜单可重新选择测试项目。1.开机 (1) 使用前务必检查仪器接线,确认接线无误,接地良好,方可开机。(2) 测量过程中,须紧急关断高压,或者需进入高压区操作时,可按下面板上的高压开关断按键,即可关闭高压输出。(3) 仪器按不同被测试品接线(接线方法祥见后述)。检查接线无误后,打开电源开关,屏幕自动按以下菜单翻页显示,见图2: 1.试品测试 欢迎使用 2. 数据打印 介质损耗测试仪 3. 数据传输 4. 仪器设置 (4) 当菜单停在图2(C)后,进行如下操作:按面板光标 键可选择所需功能:若光标移动至 1 ,再按下 确认 键,仪器进入测试程序,屏幕显示见图6(继续执行测量,方法见第4条)。2.打印 进入主菜单图2(C),将光标移至 2数据打印 ;按 确认 键后,屏幕显示见图4:若光标移动至 1 ,按 确认 键后,显示最近一次测量数据;光标移动至 2 ,按 确认 键后,可翻页查阅以前存储的数据;光标移动至 3 ,按 确认 键后,可打印最新结果;光标移动至 4 ,按 确认 键后,可打印存储中所有数据;打印完毕,屏幕显示 打印完毕 ,见图4。此时可接退出键回到主菜单。1.最新结果显示2.历史数据显示 打印完毕3.最新结果打印4.历史数据打印 图3 图43.清零 进入主菜单图2(C),将光标移至 4 ,按确认 键后,屏幕显示见图5: 光标移至 2 ,按下 确认 键, 清空缓冲区 图5可将以前测试所存储的所有数据清零。4.测量 进入图2(C)后,移光标至 1试品测试 , 确认 后,屏幕显示如图6,将光标移至 1反接法 ,屏幕显示见图6。选择所需测量电压步骤为:使用 可改变电压值见图7。(注意:高压危险,不可接近高压输出端),按下 确认 键进入选择频率见图8,移动光标可选择所需频率,按下 确认 键仪器进入测量状态,这时 高压指示灯 亮。屏幕显示见图9。分三次取样,共约需一分半钟可完成全部取样过程。 测量完毕(三声嘀嘀嘀)后, 高压指示灯 熄灭,屏幕显示见图10,这时所显示的数据即为测量终值。如需打印数据,按第2条进行。正接法只需将光标移至 2正接法 , 确认 后,操作过程不变。测量接线如图11(a)或图(b): 1.反接法 选择测量电压 选择频率2.正接法 45HZ XXXXKV 50HZ 55HZ 图6 图7 图8(光标可继续下移选择其它频率或双频测试) 50HZ正测量过程中 电压值:****V请稍候 介损值:*.**** 电容值:***.*PF 图9 图10(选择单频测量正接法时的数据显示结果)4.1正接法测量接线4.1.1测量接线见图11(a),该测试方法适用于被试品不接地的情况 HV 接线时,仪器高压端(HV)芯线(红 夹)浮空。屏蔽(黄夹)线接被试品。 CX 仪器低压端(LV)芯线接被试品, LV 蔽线不接(悬浮)。 被试品 图11(a)介损测试仪4.1.2测量标准电容时的接线如图11(b)接线时,仪器高压端(HV)芯线(红夹)浮空,屏蔽线(黄夹)接被试品高压端。 LVLV E 器低压端芯线(红夹)接被试品低压端(LV),屏蔽线(蓝夹)接被试品屏蔽端(E)。 介损测试仪 BR16标准电容 图11(b)4.2反接法测量接线4.2.1测量接线如图12(a):该测试方法适用于被试品固定接地的情况。(如图测量变压器等)。 接线时,仪器高压端(HV)芯线(红夹) 接被试品,其屏蔽线(黄夹)不接(悬 LV CX 浮);仪器低压端(LV)屏蔽线(蓝夹) 接被试品接地端,芯线(红夹)不接, 浮空。 介损测试仪 被试品 图12(a)4.2.2测量标准电容时的接线如图12(b) HV 接线时,仪器高压端(HV)芯线(红 LV 夹)接标准电容低压端(LV),屏蔽线 E (黄夹)接E,仪器低压端(LV)芯线 LV HV (红夹)不接,浮空,屏蔽线(蓝夹) 接标准电容高压端。并注意将电容提 BR16 高,下面垫上 15KV的绝缘板才能进 介损测试仪 标准电容 行反接法测量!!!图12(b)4.3双频测量 进入图8中将光标(可上、下移动)移至所需的双频率,按确认键,仪器自动进行 双频测量 。测量完毕,将显示测量结果,屏幕显示见图14,45,16所示(表示45/55Hz反接法)。 45Hz反 55Hz反 45/55Hz反 电压值:**V 电压值:****V 电压值:**V 介损值:*.**** 介损值:*.**** 介损值:*.**** 电容值:***.*PF 电容值:***.*PF 电容值:***.*PF 图14 图15 图16单频测量结果见图10。可移动 键,翻屏查阅测量值。所有测量过程中,无论测量电压选择为何值,量程均由仪器内部软件自行确定。注意事项1.接线后,必须注意检查接线是否正确、牢固,试验时由于高压线拖地或测量线未接牢固时引起打火,均可能损坏仪器。2.正接法测量时,若高压线拖地或被试品闪络,仪器会由内部自动电源短路保护,此时会烧坏保险后,仍可正常工作。3.确认接线无误后,请远离高压接线端,然后开启电源,按菜单提示进行操作。测量完毕后,仪器显示测量结果,并作存储,发出三声 嘀 音。如果做正接法时错选成反接法,其结果为无数据或很低的数据,反之如果做反接法时,错选成正接法,结果同上!!均有可能损坏仪器!!做正接法或反接法时,均需将短接插头插入HV1和HV2,否则如果不插上时,将无高压输出。做 CVT 时,从专用插座内取电压送至CVT之前,必须将HV1和HV2的短接插头去除,否则HV插座上将带用高压,会造成安全事故!!4.严格按照《电业操作规程》要求,升压时请远离高压接线端。5.在测量过程中,如果出现不正常状态时,应立即按面板上高压关按钮,然后切断220V电源。(如被试品腐蚀或松动等)。如果三次测量均无结果,仪器将提示如图18。这时关机并与厂方联系。若出现图19提示语句,应返回主菜单,即图2(C),重新进行测量。 测量中断 仪器故障 超出量程 请检查接线及保险 请送检查 按任意键退出 图17 图18 图196.第3条清零时, 确认 后,屏幕提示见图20。操作时,同时 按 清空数据 数据缓冲区空 图20 图21按下 键,数据清零完毕,见图21。7.打印工作不正常时,仪器有如下提示语句见图22。这时应检查打印 打印中断 数据缓冲区满 请检查打印机动 1。清空 图22 图23机电源指示灯,亮即为正常,不亮按下面板打印机 SEL 键,或检查打印纸是否用完,或者是否有卡纸的现象。如果数据存储已满,表时最新测量数据无法存储,应清空缓冲区(即清零),打印方可正常工作。否则仪器不执行打印功能。8.当测量过程中出现 死机 现象,请先关闭高压,然后关总电源,稍等2分钟后再合上电源开关重新测试,并应检查电网电压,仪器正常工作应AC220V?22V,50HZ?1HZ。9.仪器及各附件应妥善保管,注意防腐蚀及潮湿锈,外观及各功能键保持干净无破损磨擦,以免影响测量精度。10. 使用保存及运输过程应平置,避免颠震。装箱清单1.电源线 1根2.6A保险 2只3.HV高压拖线7米 1根4.LV低压拖线7米 1根5.HV1 HV2短插头线 1只6.说明书 1份7.合格证/保险卡 1份8.打印机纸 2卷保证书本公司生产的所有仪器设备实行保修,保修期是从发货之日起一年时间,保修期内,负责免费检查、零部件替换,用户附带产生的其他费用,如运输费用等由用户自已承担,由下列情况造成的损失,将不负责任何修理费用:1.由于疏忽大意,不按操作规程操作,乱接乱用导致设备的损坏。2.不经同意,自行拆动设备,更换零部件引起的损坏。由于运输或其它搬运过程中,处理不当而引起的损坏
供应RX系列变频抗干扰介质损耗测试仪
日期:2010-09-30 00:56 点击:4
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