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Keithley2636双通道系统源表(低电流)主要特点及优点:将精密电源、精确电流源、数字万用表、任意波形发生器、V或I脉冲发生器与测量、电子负载、触发控制相结合 全部集合于一台仪器10,000读数/s和5,500源-测量点/s到内存，提供更快的测试速度嵌入式测试脚本处理器(TSP )在I-V功能测试中提供独一无二的系统自动化和相当于同类产品二到四倍的测试吞吐量系列产品提供广泛的动态量程：1fA到10A和1 V到200VTSP-Link 主/从连接无缝集成多个2600系列系统源表通道于一个系统，编程和控制起来如一台仪器般简单免费的测试脚本创建软件可以编程定制测试功能，助您轻松建立强大的测试脚本免费的LabTracer 2.0软件可以实现曲线追踪和快速简单的启动每个源表通道都是电绝缘的，实现高度集成的测量和配线灵活性业界最高的SMU机架密度，适合自动测试应用 单通道的2635和双通道的2636是吉时利2600系列多通道I-V测试解决方案中的最新成员。具备1fA测量分辨率，2635和2636被优化用于需要低电流源和测量能力的应用，是您下一代半导体参数分析和测试系统的理想选择。同2600系列的其它型号一样，每台尺寸仅为仅半机架，2U仪器，却将精密电源、精确电流源、五位半数字万用表、电压或电流脉冲发生器与测量、低频任意波形发生器、电子负载、触发控制相结合。2600系列数字源表系列给电子元器件和半导体制造商提供了一个灵活的、高效的、极具性价比的方案，适合于精确DC、脉冲和低频AC的源-测量测试。基于最初2400系列数字源表的紧凑集成源-测量技术，2600系列仪器在I-V测试应用中能够提供相当于同类产品的二到四倍的测试速度。它们还具备更高的源测量通道密度并且比同类产品显著地降低了使用成本。专利的模数转换器在小于100 s的时间内可同时提供I和V测量值(10,000读数/s)，源-测量扫描速度为200 s每点(5,500点/s)。这种高速的源-测量能力加上先进的自动化特性及软件工具使得2600系列数字源表系列成为广泛用于多种器件I-V测试的理想方案。 相关应用:半导体器件特性分析、参数分析、可靠性和晶圆测试光电器件、传感器和分立器件的低电流测试研究和教育实验室应用，如材料和电介质测试、霍尔效应和范德堡测量纳米科技研究应用中的低功率特性分析