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SGG-01纳米测长仪型号数显分辨率最大测量范围十次测量重复性测量稳定性示值误差测量力SGG-010.1nm500 m(可走行程1.2mm) 0.5nm漂移 0.5nm/10分钟 (3+0.03L)nm0.001～0.1N注：L＝实际使用的测量范围，单位： m构 成： 由传感器测头、数显表（数显卡）及测量台架三部分组成。特 点：此种传感器（测长仪）是本公司与国内外多位专家联合研究的结晶，原为本公司内部使用作为测量参考基准，现应相关客户要求，开始对市场供应。其主要特点是：极高的测量灵敏度。数字分辨率可达0.1纳米；极佳的稳定性与重复性。测量重复性及稳定性都在0.5纳米以内；极小的测量误差（极好的线性）。全量程线性 0.005％（十万分之五)；很微的测量力。从0.001N到0.1N可选定；很大的测量范围与分辨率比值。可达（五百万倍）；很宽的环境适应性。对室温变化要求不严，对气压、温度、空气折射率等不敏感；很广的材料适用范围。可测任何种类金属物体，也可以测玻璃、晶片等任何非导体；很远的测量距离。测量点和读数点可以远离3～30米，长电缆传输对测量结果没有影响。SGG-01纳米测长仪