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BTX-1智能半导体器件特性测量仪为了测量半导体分立器件特性由上海实博实业研制开发了本仪器。它将传统的 半导体特性测试仪 浓缩成一个插卡（测试卡）形式，将其插入计算机的扩展槽中，在软件的支持下，实现对半导体器件（晶体三极管、场效应管、可控硅元件、二极管等）快速测量，并可把结果存盘或打印。　　测试卡充分利用电脑的软、硬件资源在电路设计上，以数字电路替代模拟电路组成阶梯信号发生器，并设置了自校准电路，提高了测量的准确性，用软件实现硬件的部分功能，降低硬件的成本。　　还设计了将测量数据进行二次数学处理的软件，使得测量时不仅能在屏幕上显示晶体管的输出、输入曲线，并且能自动显示不同电流下的电流放大倍数、跨导、二极管的理想因子， －Ic曲线等等。　　工作电压：AC220V 10% 50Hz 测量精度： ５％　　外形尺寸：350 280 80mm