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剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数(derivative)场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术(electronicspecklepatterninterferometry)的许多优点外，还有光路(opticalpath)简单，对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数，因此，在自动消除刚体(rigidbody)位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT,nondestructivetesting）领域。该仪器使用大功率绿色半导体激光器作光源，具有电子散斑条纹实时处理软件，操作方便，便于携带，可用于现场测量。采用相移技术分析条纹，可获得离面位移导数场的全场数据。 ★光源：半导体激光器，功率50mW，波长532nm★定焦镜头：AF尼克尔50mmf11.8D★ 相机：1394数字摄像头 ★ 剪切量：连续可调★软件：条纹实时显示，相移处理★演示试件：圆形测试座加载架。★工作距离：400～1200mm★尺寸：182mm（长） 88mm（宽） 329mm（高）