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测量原理高频率的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行，接触到被测介质后，微波脉冲被反射回来，并被仪表的电子部件接收，且分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波，分析计算后将它转换成物位信号给出。由于其测量原理简单，VEGAFLEX可以不带料调整，从而节省了大量的调试费用。测量缆和棒可以截短，使之更加适应现场的应用。对于蒸汽不敏感即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量精度也不受影响。 不受介质特性变化的影响　被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。 不受被测介质粘附影响　在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。 容器内安装物 如果采用同轴套管式的VEGAFLEX，测量完全不受容器内安装物的影响，比如：加热管或支撑物等，且不需要特殊调试。 VEGAFLEX的不同应用由于VEGAFLEX导波雷达物位计提供了不同形式的微波导向传播途径，测量的量程及介质受其影响，按其提供的形式分以下几种：形式 测量介质 量程缆式 用于测量液体或固体介质 60m杆式 用于测量液体或固体介质 6m同轴套管 用于测量低黏度的液体介质 6m 界面的测量VEGAFLEX67专门用于测量液体介质的界面。为了这个特殊的应用，不但从机械结构上，而且从电子部件上都进行了优化。 界面测量的前提条件上层介质(L2)：1. 可以为不导电介质；2. 必须知道L2的介电常数（为了使其测量准确，调试时需要输入）。最小介电常数：棒式1.7，同轴管式1.4；3. L2必须稳定，且介质不能更换，混合比列不能改变；4. 上层介质必须是同质的，内部没有分层；5. 上层介质的厚度至少100mm；6. 上层介质和下层介质分层要明显，没有乳化状，没有腐化层；7. 上层介质尽量不要有泡沫。下层介质（L1）：1. L1介电常数比L2介电常数至少大10，最好是导电的。 界面测量的输出信号界面可以通过传感器直接进行分析处理。模拟量输出（4 20mA）将界面的高度（h1）转换成百分数。这个数值也正是要被调整的数值。仪表在供货时已经设定好传感器长度和上部的死区（0%/100%）。PLICSCOM显示调整模块和调试软件PACTware显示出界面的距离和到上一层介质表面的距离。HART协议可以传输到界面的距离和到上一层介质表面的距离。这些数据可以通过信号处理仪表VEGAMET625或任何基于HART通讯的分析处理系统进行分析处理，不如：接口模块。VEGAMET625还可以计算两个数值的差值。差值即为上层介质的厚度。 主要性能参数 应用范围液体或较轻的固体介质测量范围棒式：0.15 4m 缆式：0.15 32m测量精度棒式： 5mm （-20 +250℃）缆式： 5mm （-20 +250℃）同轴管式： 3mm （-20 +250℃）同轴管式： 5mm （-200 +400℃）过程温度标准型（Viton密封） -30 +150℃标准型（EPDM密封） -40 +150℃标准型（Kalrez6375密封）-20 +250℃高温型（石墨密封） -200 400℃过程压力标准型-1 100bar（取决于过程连接）高温型-1 400bar（取决于过程连接）过程连接螺纹/法兰连接材料316L信号输出四线制20 72VDC,20 250VAC/4 20mAHART两线制4 20mAHARTProfibusPA/FoundationFieldbus死 区棒式 上端150mm 下端0mm缆式 上端150mm 下端250mm（重锤+100mm）同轴管式 上端50mm 下端0mm介电常数 1.7 VEGAFLEX65 1.4