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恒胜创新BJI-GSeriesX光机透视仪 可用于高清X射线X光无损检测芯片、电子元器件、电阻、电路等相关电子器件的X光机透视仪。 其他工业无损检测 特点 -------------------------------------------------------------------- 业界首创高精度、超高清X光机透视仪 X光机透视仪检测透视每厘米内可分辨出高达227线！ 数字化X射线机配备《恒胜创新工业无损检测X射线机图像处理系统》可对图像进行丰富的处理及打印透视图像。BJI-GSeries对工业电子芯片的高清透视输出的图像分辨率达到了1620*1220像素。一块约40毫米长的工业电子芯片经过恒胜创新图像采集系统的处理后可放大近1000倍。图像灰度等级达到4600级，可完美清晰检测各类电子元器件及芯片内部状态。 参数 -------------------------------------------------------------------- 管电压： 70KV 管电流： 0.4mA (高频)成像尺寸：40.5*30.5mm分辨率 ：227p/cm传感器：1/1.8 CCD像元尺寸：1620X1220灰度等级：4600级图像格式：bmp；lrd外形结构：可拆卸式一体机全套组成：X射线机主机+成像系统+计算机+使用手册+附件 重量：2.7KG（未含计算机重量）功率：65W（未含计算机功率）供电：220V或直流供电 介绍-------------------------------------------------------------------- BJI-GSeriesX光机透视仪对电子芯片检测的局部效果 BJI-GSeries对电子元器件的检测局部效果 X光机透视仪配备《恒胜创新工业检测X射线机图像处理采集系统》为无损检测透视的数字化提供了完美支持。本系统可对图像进行采集、放大、缩小、对比度、明暗、测量、角度、镜像、打印等多种操作。 BJI-GSeriesX光机透视仪 检测工作区 BJI-GSeriesX光机透视仪机身细节 BJI-GSeriesX光机透视仪工作检测中的外观 BJI-GSeriesX光机透视仪使用手册及《恒胜创新工业检测X射线机图像处理采集系统》程序与驱动光盘 恒胜创新BJI系列 助您发现新视界 用途--------------------------------------------------------------------