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BMH-J3 数显薄膜测厚仪仪器名称: 数显薄膜测厚仪,薄膜测厚仪,数显测厚仪,测厚仪,厚度仪,薄膜厚度测定仪,厚度测定仪,数字厚度仪,厚度测试仪,厚度试验仪产品用途：数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。技术指标： 1.测量范围：（0-25）mm2.分辨率：0.001mm 3.电源：氧化银电池SR44 4.工作温度：0℃～+40℃ 5.储运温度：-20～+70℃6.相对湿度：≤80%如需产品详细技术资料及价格，请咨询：0531-67810688 QQ：513375912 秦彤 女士