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品牌:上海西光
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产品展示 宝贝描述 一、用途 EF-II 薄膜厚度测定仪，主要用于测定金属薄膜涂层的厚度，该仪器采用非接触式两次对焦的光学测量法，附以最先进的电子对焦系统，使得测量的重复误差在 1-3μm 之间，利用 CCD 加监视器观察图像，比人眼观察更客观。该仪器使用方便、操作简单、测量误差小、精度高，广泛应用于电子工业、塑料、橡胶、机械等行业。 二.规格 1.物镜:20X、40X 2.总放大倍数：600X、1200X （ 480线CCD ） 3.工作距离：95mm 4.工作台：30 70mm 5、最大测量厚度： 2mm 6、重复测量误差：1-3μm 三．仪器的成套性 1.主机：一台 2.CCD 摄像头一个 3.CCD 适配镜一个 4.移动工作台一个 5.内置电子对焦系统一套 6.数字式千分表一个 7.监视器一台 购买需知 汇款支付 联系方式 有情链接