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平行平晶157系列特点 用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。每组包括4种厚度。带有配套的携带箱。技术参数平面度:0.1 m平行度:0.2 m直径:30mm借助于平行平晶产生的干涉条纹图案可对测量表面的平行度进行检测通过下述方法可确定所测量表面间的平行度：在测砧上夹紧平行平晶，从心轴方向观察在测力作用下产生的干涉条纹的数量。当平行平晶约为1 m(0.32 mx3=0.96 m)时，从测砧边缘观察的条纹数一定不会超过一。定货信息：公制型千分尺检测范围货号平行平晶种类(平行平晶厚度)0-25mm157-90312.00,12.12,12.25,12.37mm25-50mm157-90425.00,25.12,25.25,25.37mm 英制型千分尺检测范围货号平行平晶种类(平行平晶厚度)0-1 157-901.5000 ,.5062 ,.5125 ,.5187 1-2 157-9021.0000 ,1.0062 ,1.0125 ,1.0187