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二维测高仪(手动型）TESAMICRO-HITE TESA测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、 深度和间距的尺寸，它还适用于测量形状和位置误差，例如垂直度和直线度。TESA测高仪的功能特点:TESA测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、 深度和间距的尺寸，它还适用于测量形状和位置误差，例如垂直度和直线度。 本测高仪是一个模组化设计系统，故用户可根据使用要求，选购所需要的部分。操作者能借助内装电子泵产生的气垫，轻快地使测高仪在平面上移动。被测值即刻在控制台上显示、无需操作者作费时的人为运算。可作1维测量、2维测量、角度测量。可编制和执行1维或2维测量程序，包括公差和统计计算（X、CP、CPK、等）可存储99个测量程序，每个程式可64个参数，共可存储3000个测量结果。技术描述 性能指标1、二维测高仪技术资料：型号测量显示范围最大误差MICRO-HITE600615mm（2+3L）umMICRO-HITE900920mm（2+3L）um测量不确定度（2+3L）毫米（L单位米）重复性+2s-2s小于等于2um用TESAIG-13测头（No.07.60140）时，垂直度和直线度的最大测量误差：（正向测量和侧向测量时）：3um控制台上显示的解析度：0.0005/0.001/0.01/0.1/1mm允许测头移动速度：300mm/s取样时测力1.6N正负0.25N介面RS232长度标准采用光栅。为了保证仪器精度长期不变，测量头的自动装置和导轨系统是相互分开的悬挂式。不论测高度，还是测垂直度、直线度，对系统误差均进行修正，从而提高了测量精度。可在内置打印机上打印，也可输出到外接打印机在A4纸上打印。测圆表面时，可自动搜索到转折点。测头直径值自动补偿，即可作补偿测头直径值的测量。测量时也可表示链式尺寸。 可显示变动量从而用作平行度误差等的测量。测量值可直角坐标值显示，也可极坐标值显示。检测后，可以逐一对存储的测量结果进行检查，以检查有无粗大差错。可作坐标原点平移、坐标旋转，从而建立要求的坐标系。可以设置理论点（虚点）。由在一圆周上均匀的几个实际圆测量，计算它们的回归圆直径，回归圆的圆心位置。使用IG-13测头，可以测垂直度、直线度，测量结果可打印曲线，可显示实际垂直度的最小二乘直线的直线度误差。对测量文件可进行检查修改、删除、复制。可提供统计分析软件。具有系统 自测 检查功能。