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GT821F涂层测厚仪 膜厚计GT821F涂层测厚仪 膜厚计 测量原理磁性法当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得覆层的厚度 www.uvcnn.com GT821F涂层测厚仪 膜厚计 采用磁性测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基体（如：铁、钢、合金、和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。GT821F涂层测厚仪 膜厚计 技术参数测量范围：0~1250um工作电源：2节5号电池测量精度误差：零点校准 ±（1.5 3%H）；二点校准 ±（1%∽3%）H 1.5环境温度：0-40℃相对湿度：≤85%最小基体：10*10 mm最小曲率：凸 5mm/ 凹 5mm最薄基体：0.4mm重量：99g（含电池）尺寸：102mmx66mmx24mmGT821F涂层测厚仪 膜厚计 特点便携设计，手掌大小采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力人性化设计，简单操作 www.uv-speedre.com 在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换两种校准方式，零点校准和二点校准宽角度LCD液晶显示公制和英制单位转换具有电源欠电提示操作过程有蜂鸣提示具有自动关机功能深圳市速德瑞科技有限公司主营UV能量计、透光率仪、光泽度仪、涂层测厚仪、内窥镜、水分仪等各类仪器仪表联系电话：0755-2315875215814461886 QQ：1546334169登录www.speedre.com 了解更多详情