蔡司MERLIN系列场发射扫描电镜------从成像到全套实验室应用：卓越亚纳米级分析能力ZEISS的MERLIN Compact场发射扫描电镜全部采用新一代专利镜筒(GEMINI)设计，具有优良的高、低加速电压性能;创新的InlensDuo探测器设计是目前世界上唯一真正的内置镜筒电子束光路上的探测器，其具有最佳的灵敏度和最高的接收效率。

　　详细介绍

　　蔡司MERLIN系列场发射扫描电镜使用未来的实验室分析仪器

　　借助 MERLIN 系列场发射扫描电镜，即可在数秒内完成图像采集，观察清晰的原子级分辨率图像及进行完整的三维表面测量与分析。无论是配备性能出色GEMINI I 镜筒的入门型 MERLIN Compact 电镜，或是配备高分辨率 GEMINI II镜筒的高端型 MERLIN 电镜，MERLIN 系列均是未来稳固投资的最佳之选：场发射扫描电镜协助您更好地应对未来工作中的各种挑战。15 个探测器端口和多个分析选择，为用户提供灵活性和扩展性。

　　MERLIN 系列易于扩展，以适应不断增长的需求

　　MERLIN 系列场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)可以采集高分辨图像，做成份分析，获取样品全部信息。样品室配有用于安装探测器和多种分析功能选项的 15 个端口，协助您完成从图像采集到完整的材料分析等一系列工作。根据应用需求进行功能扩展：MERLIN 系列具备全面的可升级性。

　　蔡司MERLIN系列场发射扫描电镜应用无极限

　　使用原子力显微镜功能选项，以原子级分辨率获取半导体样品的表面结构信息。通过增加 3View® 超

　　微切机实现大体积生物样本的三维重构。MERLIN系列的平台设计与智能化探测器技术，随时可借助即插即用扩展功能实现系统升级。开放式的系统软件编程接口，可快速地整合市场上最新的分析解决方案。

　　全面便捷的样品分析

　　MERLIN 系列的整套探测系统由不同探测器组成：in-lens 二次电子探测器用于高分辨率成像、能量选择背散射探测器(EsB)用于低电压成份衬度成像、in-lens duo 探测器用于二次电子和背散射电

　　子成像，或角度选择背散射探测器(AsB)用于晶体表面的结构分析。适合对各种材料进行单独的分析，或与探测器信号一起获取更丰富的图像信息。这些只需根据应用选配一个或多个探测器便可实现。

　　蔡司MERLIN 系列场发射扫描电镜产品链接：

　　http://www.chem17.com/st331930/product_27324637.html

　　http://www.xyichuang.com.cn/Products-27324637.html